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高度计介绍
      高度计采用高精度光栅，即玻璃基体的增量式光栅尺作为测量基准，可以支持大量程的测量。测量基准对震动和冲击不敏感，并具有确定的稳定特性。中图SJ200系列高度计适用于产品计量、多点检测、测量设备监测和位置测量等众多领域，对长度、间距、厚度、高度或直线位移进行快速、准确的测量。
     仪器包括高精度光栅装置、密珠导轨的测量杆装置、高性能的高速采样等。
     高度计采用高精度光栅作为测量基准，选用玻璃基体的增量式光栅尺，所以测量支持大测量范围，对震动和冲击不敏感，并具有确定的温度特性。
     增量光栅尺的扫描方法为光电扫描，因此无机械接触也无磨损。电子设备对输出信号进行细分至纳米级的极小测量步距，从而确保一个信号周期内微小位置误差。
     •SJ200系列高度计采用高精度光栅，即玻璃基体的增量式光栅尺作为测量基准，所以支持大量程的测量。测量基准对震动和冲击不敏感，并具有确定的稳定特性。
     •增量光栅尺的扫描方法为光电扫描，因此无机械接触也无磨损。电子设备对输出信号进行细分至纳米级的极小测量步距，从而确保一个信号周期内微小位置误差。  
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